Produkte3D ORM PAT SENSOR
Die Sensoren von MTS arbeiten auf der Grundlage der patentierten 3D ORM ( 3fach Dynamisch Optische Rückreflektionsmessung) Technologie mit selektiven Fokussystem.
Die besondere Form des selektiven 3D ORM Messraumes und die Kombination mit einer elektronischen Bewertung des Rückreflexionsimpulses sind das besondere Kennzeichen der MTS 3D ORM Technologie.
Ein fokussierter Laserstrahl wird kreisförmig über einen Partikelstrom bewegt. Aus der Zeitspanne, die zum Überstreichen der fokussierten Partikel benötigt wird, wird deren Größe bestimmt (ToF).
Aus der Summe der Messsignale wird eine statistisch solide Verteilung erstellt.Die patentierten MTS Systeme lässt nur diejenigen Partikel zur statistischen Auswertung zu, die sich direkt im Fokus befinden.Teilchen und Tropfen, die sich außerhalb des Fokus befinden, werden von einer statistischen Erfassung durch die patentierte Optik ausgeschlossen. Diese ermöglicht es, Koinzidenzfehler auch bei hohen Dispersphasenkonzentrationen von bis zu ca. 40 Vol.% und ca. 70% für Emulsionen weitestgehend auszuschließen.
Der Fokus
Rotating Multi Depth Focus
Zusätzlich zu der rotierenden Bahn des Lasers wird die Fokusebene in den Partikelstrom senkrecht hinein bewegt. Es kommen die Partikel zur statistischen Auswertung , die sich direkt im Fokus befinden. Partikel und Tropfen, die sich außerhalb des Fokus befinden, werden von einer statistischen Erfassung durch die patentierte Optik ausgeschlossen.
Die Kenntnis über die Lage des Fokus in dem Partikelstrom lässt eine erweiterte Elektronik zu, welche die gemessenen Signale erneut auf Qualität prüfen kann.Selective Multi Depth Focus
Durch die Signalverfolgung wird der dynamische und selektive Messbereich auf die Kristall- und Partikelgrößen automatisch im Bereich <0,5 bis 2000 µm angepasst .
Für die Auswertung stehen Formfaktoren zur Verfügung und es werden formabhängige Signale ausgewertet.
Die permanente Fokustiefenverstellung gewährleistet einen 10fach erweiterten dynamischen Größenbereich, aus welchem fokussiert Partikelsignale detektiert werden.
Der optische Hochleistungsempfänger arbeitet mit extrem hoher Zählrate (10 hoch9 Hz)und die Auswertung der Rohsignale erfolgt nach DIN ISO 19230. Ein optionales externes Oszilloskop ermöglicht Forschern die Rohsignalbetrachtung.Multi Capture Signal Analyse
Die mögliche Aufwertung des Messsystems ist ein System zur Signalformerfassung >0.5µm mit Tiefenfokus und selektiver Abtastung. Das offene Signalsystem basiert auf einem 10mW Lasersystem. Oberflächenstrukturen werden als Signalform erfasst, dargestellt und abgespeichert, wobei Partikelabstände von 1 µsec erkannt werden.
Die Eingangsrohsignale werden vom Sensor abgegriffen und stehen den Forschern bei Bedarf zu Verfügung. Somit lassen sich Partikelmorphologien hinsichtlich deren Oberflächen erfassen und zuordnen.
Zusätzlich zu der erweiterten Elektronik des SMF speichert die Elektronik jedes Partikelform-Signal in einer Datenbank.